{"id":103245,"date":"2018-03-11T10:25:46","date_gmt":"2018-03-11T10:25:46","guid":{"rendered":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/sin-categoria\/caracterizacion-de-frentes-de-onda-densamente-muestreados\/"},"modified":"2018-03-11T10:25:46","modified_gmt":"2018-03-11T10:25:46","slug":"caracterizacion-de-frentes-de-onda-densamente-muestreados","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/optica\/caracterizacion-de-frentes-de-onda-densamente-muestreados\/","title":{"rendered":"Caracterizaci\u00f3n de frentes de onda densamente muestreados."},"content":{"rendered":"<h2>Tesis doctoral de <strong> Jes\u00fas Caum Aregay <\/strong><\/h2>\n<p>A lo largo de los \u00faltimos a\u00f1os los sistemas \u00f3pticos que incorporan superficies free-form se han popularizado, estos sistemas nos los encontramos desde las populares lentes de adici\u00f3n progresiva (lap) hasta la nueva generaci\u00f3n de proyectores o inclusive en los dispositivos de lectura de los dvd. Todos ellos tienen en com\u00fan que generan frentes de onda con grandes aberraciones locales y su caracterizaci\u00f3n funcional no es una tarea sencilla.    nuestro inter\u00e9s se ha centrado en la caracterizaci\u00f3n de los frentes de onda con grandes aberraciones locales y de gran superficie, es decir fundamentalmente los que generan las lap.       bajo estas condiciones de contorno en la presente tesis se propone un m\u00e9todo te\u00f3rico para caracterizar de forma r\u00e1pida frentes de onda de grandes dimensiones, dicho m\u00e9todo se acompa\u00f1a del dise\u00f1o, construcci\u00f3n y validaci\u00f3n de un dispositivo experimental que permite validar el principio de medida, con elevadas tasas de muestreo tanto si el frente de onda presenta simetr\u00eda de revoluci\u00f3n como si no lo presenta. El m\u00e9todo propuesto tambi\u00e9n permite llevar a cabo una caracterizaci\u00f3n local de frente de onda empleando una preselecci\u00f3n r\u00e1pida de los datos experimentales, esta \u00faltima posibilidad lo capacita para realizar ajustes locales del frente de onda en tiempos razonables. Es especialmente relevante la estrategia de caracterizaci\u00f3n sin ajuste ya que se prev\u00e9 que sea compatible con los tiempos de inspecci\u00f3n admitidos en los procesos masivos de producci\u00f3n.     el montaje experimental dise\u00f1ado y validado, combina dos t\u00e9cnicas ampliamente empleadas en metrolog\u00eda \u00f3ptica; la deflectometr\u00eda ronchi y la t\u00e9cnica de desplazamiento de fase denominada phase shifting, que juntamente con un filtrado unidimensional de la se\u00f1al permite alcanzar valores experimentales de las cuaternas de valores que caracterizan un frente de onda (posici\u00f3n x-y y direcci\u00f3n u-v) con una densidad de muestreo muy elevada en toda la superficie del frente de onda. El valor a\u00f1adido que implica la combinaci\u00f3n de las dos t\u00e9cnicas, deflectometr\u00eda y phase shifting es precisamente la capacidad de mantener la elevada tasa de muestreo cuando el frente de onda est\u00e1 muy aberrado, o lo que es lo mismo, presenta grandes variaciones locales de curvatura.     la aplicaci\u00f3n exitosa de la t\u00e9cnica de desplazamiento de fase es posible si se dispone de registros de patrones de franjas con perfiles senoidales, esta caracter\u00edstica se ha conseguido gracias a la aplicaci\u00f3n de filtros digitales sintonizados seg\u00fan el contenido frecuencial del registro. En la presente tesis doctoral se propone la aplicaci\u00f3n de una t\u00e9cnica de dise\u00f1o de filtros digitales tipo iir derivada de las t\u00e9cnicas cl\u00e1sicas de dise\u00f1o de filtros anal\u00f3gicos. Queremos hacer hincapi\u00e9 en que precisamente el \u00e9xito en la combinaci\u00f3n de las t\u00e9cnicas deflectom\u00e9tricas y de desplazamiento de fase se debe al uso de los filtros digitales sintonizados, ambas t\u00e9cnicas eran ampliamente conocidas pero hacerlas trabajar cooperativamente de forma eficiente es, en si mimo, una aportaci\u00f3n relevante     con el montaje descrito anteriormente se ha podido llevar a cabo un muestreo del frente de onda con elevada resoluci\u00f3n, tanto espacial (0.0392mm) como en pendientes (3.5e-4 rad.), A su vez se han alcanzado rangos din\u00e1micos de 63.8 y 54db en posiciones y pendientes, por lo que se ha podido medir frentes de onda con grandes variaciones locales de curvatura (muy aberrados).    el instrumento, y el principio de medida, se ha validado a partir de tres frentes de onda de revoluci\u00f3n generados por tres lentes oft\u00e1lmicas de caracter\u00edsticas conocidas. En total se han caracterizado siete frentes de onda, tres generados por lentes oft\u00e1lmicas esf\u00e9ricas y cuatro por lap.  todos ellos con elevadas tasas de muestreo y se ha obtenido informaci\u00f3n suficiente para la reconstrucci\u00f3n local de frentes de onda sin simetr\u00eda. Las reconstrucciones se han llevado a cabo para tres zonas distintas de los frentes generados por las lap.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Datos acad\u00e9micos de la tesis doctoral \u00ab<strong>Caracterizaci\u00f3n de frentes de onda densamente muestreados.<\/strong>\u00ab<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>T\u00edtulo de la tesis:<\/strong>\u00a0 Caracterizaci\u00f3n de frentes de onda densamente muestreados. <\/li>\n<li><strong>Autor:<\/strong>\u00a0 Jes\u00fas Caum Aregay <\/li>\n<li><strong>Universidad:<\/strong>\u00a0 Polit\u00e9cnica de catalunya<\/li>\n<li><strong>Fecha de lectura de la tesis:<\/strong>\u00a0 23\/07\/2010<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Direcci\u00f3n y tribunal<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>Director de la tesis<\/strong>\n<ul>\n<li>Josep Arasa Mart\u00ed<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Tribunal<\/strong>\n<ul>\n<li>Presidente del tribunal: ferran Laguarta bertran <\/li>\n<li>vicente Moreno de las cuevas (vocal)<\/li>\n<li>Carlos Illueca contri (vocal)<\/li>\n<li>Jos\u00e9 Antonio D\u00edaz navas (vocal)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tesis doctoral de Jes\u00fas Caum Aregay A lo largo de los \u00faltimos a\u00f1os los sistemas \u00f3pticos que incorporan superficies free-form 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