{"id":111176,"date":"2018-03-11T10:37:36","date_gmt":"2018-03-11T10:37:36","guid":{"rendered":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/sin-categoria\/robustness-analysis-of-nanometric-sram-memories\/"},"modified":"2018-03-11T10:37:36","modified_gmt":"2018-03-11T10:37:36","slug":"robustness-analysis-of-nanometric-sram-memories","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/electronica\/robustness-analysis-of-nanometric-sram-memories\/","title":{"rendered":"Robustness analysis of nanometric sram memories"},"content":{"rendered":"<h2>Tesis doctoral de <strong> Elena Ioana Vatajelu <\/strong><\/h2>\n<p>La tesis doctoral se centra en el an\u00e1lisis de la robustez de celdas de memoria est\u00e1ticas de acceso aleatorio (sram) en tecnolog\u00edas nanom\u00e9tricas. Se empieza con el an\u00e1lisis del estado del arte en donde se introduce el tema y se pone de manifiesto su importancia. La robustez de la memoria sram se define como el m\u00e1ximo nivel de ruido tolerable por la celda para mantener su estado y correcta operaci\u00f3n. El segundo cap\u00edtulo se centra en el an\u00e1lisis de la robustez de la celda sometida a ruidos est\u00e1ticos. En primer lugar, se perfilan las m\u00e9tricas de robustez existentes con especial \u00e9mfasis en la m\u00e9trica conocida como margen de ruido est\u00e1tico (snm), ampliamente utilizada hoy d\u00eda. En la tesis se proponen dos nuevas estrategias de evaluaci\u00f3n del ruido est\u00e1tico y se validan mediante la comparaci\u00f3n con m\u00e9tricas ya existentes. Se analiza la sensibilidad de la robustez de las memorias sram frente a variaciones de proceso, tensi\u00f3n de alimentaci\u00f3n y temperatura. El tercer cap\u00edtulo se dedica al estudio de la robustez din\u00e1mica de las celdas sram se realiza una breve descripci\u00f3n del comportamiento din\u00e1mico de \u00e9stas basado en m\u00e9todos no lineales. Se resumen las principales m\u00e9tricas de robustez con \u00e9mfasis en la robustez que presentan las celdas sram a \u00absingle event upsets\u00bb (seu). Se han estudiado las m\u00e9tricas de ruido din\u00e1mico aparecidas recientemente en la literatura. En la tesis se presentan dos nuevas estrategias que permiten la evaluaci\u00f3n del comportamiento din\u00e1mico de la celda. La primera eval\u00faa los m\u00e1rgenes de funcionalidad de la celda durante sus diferentes modos de funcionamiento mediante el uso de planos de fase. La segunda estrategia propone una nueva m\u00e9trica din\u00e1mica para las celdas sram suponiendo ruidos en tensi\u00f3n. Los resultados de simulaci\u00f3n muestran el uso de la m\u00e9trica como indicador de robustez en presencia de ruidos din\u00e1micos en tensi\u00f3n. en el cuarto cap\u00edtulo se analiza estad\u00edsticamente la funcionalidad de la celda sram. Se propone un nuevo m\u00e9todo (satisfiability boundary &#8211; statistical integration (sb-si)) para el an\u00e1lisis estad\u00edstico de la celda sram bajo variaciones de proceso. La eficiencia del m\u00e9todo presentado se demuestra mediante la comparaci\u00f3n con simulaciones monte carlo aceleradas. Mediante el uso del m\u00e9todo presentado (sb-si) se eval\u00faa la robustez de la celda sram en reposo empleando diferentes tensiones de alimentaci\u00f3n y suponiendo distintas condiciones ambientales. A continuaci\u00f3n se eval\u00faa la funcionalidad de la celda con distintas especificaciones. En el quinto cap\u00edtulo se estudian m\u00e9todos de mitigaci\u00f3n de los efectos de la variabilidad de proceso sobre la funcionalidad de la celda sram y se emplea el concepto \u00absatisfiability boundary\u00bb para la comparaci\u00f3n de los m\u00e9todos adoptados. Las principales contibuciones origiales de la tesis son: 1) nuevas m\u00e9tricas para el an\u00e1lisis de la robustez est\u00e1tica, 2) nuevas m\u00e9tricas para el an\u00e1lisis de la robustez din\u00e1mica, 3) un nuevo m\u00e9todo de estudio estad\u00edstico, 4) un nuevo m\u00e9todo que permite el estudio cualitativo y cuantitativo de las diferentes t\u00e9cnicas de mitigaci\u00f3n.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Datos acad\u00e9micos de la tesis doctoral \u00ab<strong>Robustness analysis of nanometric sram memories<\/strong>\u00ab<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>T\u00edtulo de la tesis:<\/strong>\u00a0 Robustness analysis of nanometric sram memories <\/li>\n<li><strong>Autor:<\/strong>\u00a0 Elena Ioana Vatajelu <\/li>\n<li><strong>Universidad:<\/strong>\u00a0 Polit\u00e9cnica de catalunya<\/li>\n<li><strong>Fecha de lectura de la tesis:<\/strong>\u00a0 30\/09\/2011<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Direcci\u00f3n y tribunal<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>Director de la tesis<\/strong>\n<ul>\n<li>Joan Figueras P\u00c1\u00a0mies<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Tribunal<\/strong>\n<ul>\n<li>Presidente del tribunal: Jos\u00e9 Antonio Rubio sol\u00ed\u00a0 <\/li>\n<li>robert Aitken aitken (vocal)<\/li>\n<li>  (vocal)<\/li>\n<li>  (vocal)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tesis doctoral de Elena Ioana Vatajelu La tesis doctoral se centra en el an\u00e1lisis de la robustez de celdas de 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