{"id":85921,"date":"2018-03-10T00:10:25","date_gmt":"2018-03-10T00:10:25","guid":{"rendered":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/sin-categoria\/analisis-de-la-degradacion-y-ruptura-dielectrica-de-capas-finas-de-sios2-en-dispositivos-mos-sometidos-a-estreses-estaticos-y-dinamicos\/"},"modified":"2018-03-10T00:10:25","modified_gmt":"2018-03-10T00:10:25","slug":"analisis-de-la-degradacion-y-ruptura-dielectrica-de-capas-finas-de-sios2-en-dispositivos-mos-sometidos-a-estreses-estaticos-y-dinamicos","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/fisica\/analisis-de-la-degradacion-y-ruptura-dielectrica-de-capas-finas-de-sios2-en-dispositivos-mos-sometidos-a-estreses-estaticos-y-dinamicos\/","title":{"rendered":"Analisis de la degradaci\u00f3n y ruptura diel\u00e9ctrica de capas finas de sios2 en dispositivos mos sometidos a estreses estaticos y dinamicos."},"content":{"rendered":"<h2>Tesis doctoral de <strong> Rosana Rodr\u00edguez Mart\u00ednez <\/strong><\/h2>\n<p>La progresiva reducci\u00f3n del agrosor del \u00f3xido de puerta en dispositivos mos ha dado lugar a la aparici\u00f3n de mecanismo de fallo como son la ruptura fuerte mbd la ruptura suave sbd o la corriente de fujas silc, que est\u00e1n asociados a una p\u00e9rdida de las propeidades aislantes del \u00f3xido.  actualmente es com\u00fanmente aceptado que los mecanismos de fallo del \u00f3xido son consecuencia de un proceso de degradaci\u00f3n de su estructura. Por ello, en esta tesis se ha analizado la degradaci\u00f3n de \u00f3xidos de 10 mm de grosor en condiciones de estr\u00e9s est\u00e1tico, que nos ha servido como base para un an\u00e1lisis posterior en condiciones de estr\u00e9s din\u00e1mico, m\u00e1s cercano a las condiciones de operaci\u00f3n normales de los dispositivos en los circuitos. durante este an\u00e1lisis de la degradaci\u00f3n se han encontrado distintos problemas y para solventarlos se ha desarrollado un nuevo m\u00e9todo de test; el m\u00e9todo de test de dos etapas, que consiste en someter al \u00f3xido. La principal hip\u00f3tesis del m\u00e9todo es considerar que la degradaci\u00f3nes un proceso acumulativo y presenta como ventaja que no necesita basarse en ning\u00fan modelo de degradaci\u00f3n. el m\u00e9todo de test de dos etapas han sido utilizado para analizar la degradaci\u00f3n de \u00f3xidos de 8 mm y 4,3 mm de espesor y los resultados se han comparado con los obtenidos mediante t\u00e9cnicas convencionales. A diferencia del m\u00e9todo tradicional, el m\u00e9todo de test de dos etapas permite la comporaci\u00f3n de \u00f3xidos de diferentes caracter\u00edsticas (diferente grosor) y la degradaci\u00f3n producida por diferentes tipos de estreses (est\u00e9ticos y din\u00e1micos) lo que lo convierte en una herramienta potente para el an\u00e1lisis de los mecanismos de fallo del sio2.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Datos acad\u00e9micos de la tesis doctoral \u00ab<strong>Analisis de la degradaci\u00f3n y ruptura diel\u00e9ctrica de capas finas de sios2 en dispositivos mos sometidos a estreses estaticos y dinamicos.<\/strong>\u00ab<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>T\u00edtulo de la tesis:<\/strong>\u00a0 Analisis de la degradaci\u00f3n y ruptura diel\u00e9ctrica de capas finas de sios2 en dispositivos mos sometidos a estreses estaticos y dinamicos. <\/li>\n<li><strong>Autor:<\/strong>\u00a0 Rosana Rodr\u00edguez Mart\u00ednez <\/li>\n<li><strong>Universidad:<\/strong>\u00a0 Aut\u00f3noma de barcelona<\/li>\n<li><strong>Fecha de lectura de la tesis:<\/strong>\u00a0 13\/07\/2000<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Direcci\u00f3n y tribunal<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>Director de la tesis<\/strong>\n<ul>\n<li>Montserrat Nafria Maqueda<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Tribunal<\/strong>\n<ul>\n<li>Presidente del tribunal: francesc Perez murano <\/li>\n<li>blas Garrido fernandez (vocal)<\/li>\n<li>francesca Campabadal segura (vocal)<\/li>\n<li>Juan  Antonio L\u00f3pez villanueva (vocal)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tesis doctoral de Rosana Rodr\u00edguez Mart\u00ednez La progresiva reducci\u00f3n del agrosor del \u00f3xido de puerta en dispositivos mos ha dado 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