{"id":95456,"date":"2018-03-11T10:15:28","date_gmt":"2018-03-11T10:15:28","guid":{"rendered":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/sin-categoria\/modelado-de-los-efectos-de-la-ruptura-dielectrica-bti-y-variabilidad-en-mosfets-ultraescalados-para-la-simulacion-de-circuitos\/"},"modified":"2018-03-11T10:15:28","modified_gmt":"2018-03-11T10:15:28","slug":"modelado-de-los-efectos-de-la-ruptura-dielectrica-bti-y-variabilidad-en-mosfets-ultraescalados-para-la-simulacion-de-circuitos","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/electronica\/modelado-de-los-efectos-de-la-ruptura-dielectrica-bti-y-variabilidad-en-mosfets-ultraescalados-para-la-simulacion-de-circuitos\/","title":{"rendered":"Modelado de los efectos de la ruptura diel\u00e9ctrica, bti y variabilidad en mosfets ultraescalados para la simulaci\u00f3n de circuitos"},"content":{"rendered":"<h2>Tesis doctoral de <strong> Javier Mart\u00edn Mart\u00ednez <\/strong><\/h2>\n<p>Desde la implementaci\u00f3n de las tecnolog\u00edas cmos, en la d\u00e9cada de los 60, los circuitos integrados (ci) han ido mejorando progresivamente sus prestaciones (velocidad, consumo&#8230;). La principal causa de esta mejora es que las dimensiones del transistor mosfet, dispositivo b\u00e1sico de los cis, se han ido reduciendo peri\u00f3dicamente, permitiendo un aumento exponencial del n\u00famero de componentes en los ci. Sin embargo, el escalado de los mosfets comporta nuevos problemas, que deben ser solventados para continuar el incremento de la densidad de integraci\u00f3n de los circuitos. La situaci\u00f3n actual no es una excepci\u00f3n, hoy d\u00eda es necesario sustituir el tipo de material del diel\u00e9ctrico de puerta, una de las partes fundamentales mosfet, para poder continuar con el escalado. As\u00ed, mientras el \u00f3xido de silicio (sio2) o el oxinitruro de silicio (sion) han sido ampliamente utilizados, en los pr\u00f3ximos nodos tecnol\u00f3gicos (menor de 45nm) deben ser reemplazados por materiales de alta permitividad (high-k). Sin embargo, este no es el \u00fanico problema presente hoy d\u00eda, por ejemplo, las reducidas dimensiones de los mosfets dan lugar a una elevada variabilidad de en su comportamiento el\u00e9ctrico, esto es, dos dispositivos nominalmente id\u00e9nticos y sometidos al mismo proceso de fabricaci\u00f3n tienen diferentes propiedades el\u00e9ctricas. Otro problema derivado del escalado de los dispositivos, es que en ellos tienen lugar diversos fen\u00f3menos como la ruptura diel\u00e9ctrica, el bti (bias temperature instability) o los chc (channel hot carriers), que provocan la degradaci\u00f3n de las propiedades el\u00e9ctricas de los mosfets durante su funcionamiento. Actualmente, se est\u00e1 realizando un gran esfuerzo para entender el origen f\u00edsico de los mecanismos que producen la variabilidad y la degradaci\u00f3n de los transistores. Asimismo, se est\u00e1 realizando un intenso trabajo para estimar como estos aspectos afectan a las prestaciones de los cis.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Datos acad\u00e9micos de la tesis doctoral \u00ab<strong>Modelado de los efectos de la ruptura diel\u00e9ctrica, bti y variabilidad en mosfets ultraescalados para la simulaci\u00f3n de circuitos<\/strong>\u00ab<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>T\u00edtulo de la tesis:<\/strong>\u00a0 Modelado de los efectos de la ruptura diel\u00e9ctrica, bti y variabilidad en mosfets ultraescalados para la simulaci\u00f3n de circuitos <\/li>\n<li><strong>Autor:<\/strong>\u00a0 Javier Mart\u00edn Mart\u00ednez <\/li>\n<li><strong>Universidad:<\/strong>\u00a0 Aut\u00f3noma de barcelona<\/li>\n<li><strong>Fecha de lectura de la tesis:<\/strong>\u00a0 21\/07\/2009<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Direcci\u00f3n y tribunal<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>Director de la tesis<\/strong>\n<ul>\n<li>Rosana Rodr\u00edguez Mart\u00ednez<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Tribunal<\/strong>\n<ul>\n<li>Presidente del tribunal: Jos\u00e9 Antonio Rubio sol\u00ed\u00a0 <\/li>\n<li>felice Crupi (vocal)<\/li>\n<li>  (vocal)<\/li>\n<li>  (vocal)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tesis doctoral de Javier Mart\u00edn Mart\u00ednez Desde la implementaci\u00f3n de las tecnolog\u00edas cmos, en la d\u00e9cada de los 60, los [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":0,"comment_status":"open","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"site-sidebar-layout":"default","site-content-layout":"","ast-site-content-layout":"","site-content-style":"default","site-sidebar-style":"default","ast-global-header-display":"","ast-banner-title-visibility":"","ast-main-header-display":"","ast-hfb-above-header-display":"","ast-hfb-below-header-display":"","ast-hfb-mobile-header-display":"","site-post-title":"","ast-breadcrumbs-content":"","ast-featured-img":"","footer-sml-layout":"","theme-transparent-header-meta":"","adv-header-id-meta":"","stick-header-meta":"","header-above-stick-meta":"","header-main-stick-meta":"","header-below-stick-meta":"","astra-migrate-meta-layouts":"default","ast-page-background-enabled":"default","ast-page-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-4)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""}},"ast-content-background-meta":{"desktop":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""},"tablet":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""},"mobile":{"background-color":"var(--ast-global-color-5)","background-image":"","background-repeat":"repeat","background-position":"center center","background-size":"auto","background-attachment":"scroll","background-type":"","background-media":"","overlay-type":"","overlay-color":"","overlay-gradient":""}},"footnotes":""},"categories":[2675,13593,13227,15844],"tags":[129278,196364,83362,180637],"class_list":["post-95456","post","type-post","status-publish","format-standard","hentry","category-electronica","category-fiabilidad-de-sistemas","category-simulacion","category-transistores","tag-felice-crupi","tag-javier-martin-Martinez","tag-jose-antonio-rubio-soli","tag-rosana-rodriguez-Martinez"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/95456","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=95456"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/95456\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=95456"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=95456"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=95456"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}