{"id":97730,"date":"2009-04-12T00:00:00","date_gmt":"2009-04-12T00:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/sin-categoria\/avances-en-el-diseno-optimo-de-planes-de-muestreo-en-fiabilidad\/"},"modified":"2009-04-12T00:00:00","modified_gmt":"2009-04-12T00:00:00","slug":"avances-en-el-diseno-optimo-de-planes-de-muestreo-en-fiabilidad","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.deberes.net\/tesis\/la-laguna\/avances-en-el-diseno-optimo-de-planes-de-muestreo-en-fiabilidad\/","title":{"rendered":"Avances en el dise\u00f1o optimo de planes de muestreo en fiabilidad"},"content":{"rendered":"<h2>Tesis doctoral de <strong> Carlos Javier Perez Gonzalez <\/strong><\/h2>\n<p>En este trabajo se recogen los resultados alcanzados por el autor en torno al dise\u00f1o \u00f3ptimo de planes de muestreo en fiabilidad. Por tanto, en este tipo de planes se estudia el tiempo hasta el fallo, t, de alg\u00fan producto determinado sobre el cual se han fijado unos determinados requisitos de calidad relativos a su vida \u00fatil o  duraci\u00f3n. Concretamente, se estudian los planes cuyas restricciones son fijadas por el productor y el consumidor del producto. Se proponen diferentes metodolog\u00edas y procedimientos en la determinaci\u00f3n de los dise\u00f1os de acuerdo a dichas condiciones y a otras caracter\u00edsticas que los definen. En primer lugar, se realiza una introducci\u00f3n de los conceptos m\u00e1s importantes del muestreo de aceptaci\u00f3n (curva caracter\u00edstica, niveles de calidad, riesgos del muestreo, etc.) As\u00ed como las propiedades usuales en la observaci\u00f3n de los datos en fiabilidad. Entre otros se definen los principales m\u00e9todos de censura utilizados en los planes, en concreto la censura progresiva y de tipo ii. En el primer cap\u00edtulo se citan algunas referencias destacadas en el dise\u00f1o de los planes de muestreo. En particular, a lo largo del trabajo se mencionan diferentes estudios de los planes en fiabilidad y se plantean algunos resultados que, en  algunos casos, suponen una generalizaci\u00f3n de los dise\u00f1os propuestos por determinados autores. En este sentido, en los cap\u00edtulos 2 y 3 se presentan diversos dise\u00f1os aproximados que consideran distintas distribuciones de t, como son la exponencial, log-normal y de weibull. En el caso de los dise\u00f1os exponenciales, si bien es posible obtener el plan \u00f3ptimo exacto del plan de muestreo con censura progresiva, el autor obtiene algunas aproximaciones que permiten deducir, de forma inmediata, los dise\u00f1os correspondientes con una cierta precisi\u00f3n. Para los dise\u00f1os log-normal y de weibull, tambi\u00e9n se estudian los planes con censura progresiva y se proponen algunas generalizaciones mediante resultados asint\u00f3ticos conocidos. El autor analiza y compara, empleando m\u00e9todos de simulaci\u00f3n, varios dise\u00f1os alternativos. Para efectuar dicho an\u00e1lisis, se muestra el nivel de precisi\u00f3n alcanzado en el cumplimiento de las condiciones fijadas por el productor y el consumidor para la determinaci\u00f3n de los planes \u00f3ptimos aproximados.  en los cap\u00edtulos 4 y 5 se consideran algunos dise\u00f1os que presentan algunas diferencias importantes con respecto a los planes cl\u00e1sicos presentados previamente. Concretamente, en este trabajo se utiliza como medida de calidad del producto la proporci\u00f3n p de unidades defectuosas en los lotes de producto. En los planes cl\u00e1sicos, dicha proporci\u00f3n se suele considerar que es constante. Sin embargo, en determinadas situaciones, p podr\u00eda presentar una variabilidad entre lotes. En este caso, el autor muestra en el cap\u00edtulo 4 un an\u00e1lisis detallado de ciertas distribuciones a priori de p. Se analizan diversos supuestos de los modelos de p de acuerdo al tipo de informaci\u00f3n previa disponible. Estos modelos se utilizan para definir distintos tipos de riesgos del plan de muestreo (riesgos promedios y a posteriori), lo  cual permite determinar diferentes dise\u00f1os para las distribuciones de t mencionadas. Finalmente, el autor deduce algunas propiedades de estos dise\u00f1os mediante un an\u00e1lisis comparativo seg\u00fan el tipo de riesgo utilizado en la obtenci\u00f3n del plan.<\/p>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Datos acad\u00e9micos de la tesis doctoral \u00ab<strong>Avances en el dise\u00f1o optimo de planes de muestreo en fiabilidad<\/strong>\u00ab<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>T\u00edtulo de la tesis:<\/strong>\u00a0 Avances en el dise\u00f1o optimo de planes de muestreo en fiabilidad <\/li>\n<li><strong>Autor:<\/strong>\u00a0 Carlos Javier Perez Gonzalez <\/li>\n<li><strong>Universidad:<\/strong>\u00a0 La laguna<\/li>\n<li><strong>Fecha de lectura de la tesis:<\/strong>\u00a0 04\/12\/2009<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n<h3>Direcci\u00f3n y tribunal<\/h3>\n<ul>\n<li><strong>Director de la tesis<\/strong>\n<ul>\n<li>Arturo Javier Fern\u00e1ndez Rodr\u00edguez<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<li><strong>Tribunal<\/strong>\n<ul>\n<li>Presidente del tribunal: Miguel \u00e1ngel Gonz\u00e1lez sierra <\/li>\n<li>josep Ginebra molins (vocal)<\/li>\n<li>Alberto Luce\u00f1o vazquez (vocal)<\/li>\n<li>Jes\u00fas Fernando L\u00f3pez fidalgo (vocal)<\/li>\n<\/ul>\n<\/li>\n<\/ul>\n<p>&nbsp;<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Tesis doctoral de Carlos Javier Perez Gonzalez En este trabajo se recogen los resultados alcanzados por el autor en torno 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